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相对于4G来说,5G时代在很多方面都发生了变化,这些变化意味着相关技术要面临一场全面的革新,比如测试技术,5G时代需要更高综合度和灵活性的测试解决方案,用于应对器件集成化等各方面带来的测试挑战,这些挑战同时也成了测试企业赢得市场的重要机会。
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SG5032CAN 24MHZ 1.6-3.6V -40~+85℃ 编带
品牌:EPSON(爱普生)
X1G004451000300
封装/规格:SMD-5032_4P我要选购
YSO531SR 1.8432MHZ 3.3V 20PPM 编带
品牌:YXC
O503218432MEDA4SC-1
YSO322ST 3.579545MHZ 2.25V-5.5V 25PPM -40~+85 编带
O32253579545MHEA4SI-1
封装/规格:SMD-3225_4P我要选购
SG7050CAN 24.576MHZ 1.6~3.6V -40~+85℃ 编带
X1G004481001600
封装/规格:SMD-7050_4P我要选购
SIT8103AI-42-33E-50.00000Y 停产 编带
品牌:SITIME
SIT8103AI-42-33E-50.00000Y
封装/规格:7050我要选购
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